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公司新聞

薄膜厚度測定儀的技術(shù)特征和應(yīng)用材料

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  薄膜厚度測定儀采用機械接觸式測量方式,嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。
 
  薄膜厚度測定儀的技術(shù)特征:
  嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標(biāo)定制。
  測試過程中測量頭自動升降,有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差。
  支持自動和手動兩種測量模式,方便用戶自由選擇。
  實時顯示測量結(jié)果的平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù),方便用戶進行判斷。
  配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定,保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性。
  系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能,方便快捷地獲取測試結(jié)果。
  系統(tǒng)由微電腦控制,搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板,方便用戶進行試驗操作和數(shù)據(jù)查看。
  標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口,便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸。
  支持LystemTM實驗室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng),統(tǒng)一管理試驗結(jié)果和試驗報告。
 
  應(yīng)用材料:
  基礎(chǔ)應(yīng)用:
  薄膜、薄片——各種塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度測定。
  紙——各種紙張、紙板、復(fù)合紙板等的厚度測定。
  擴展應(yīng)用:
  金屬片、硅片——硅片、箔片、各種金屬片等的厚度測定。
  瓦楞紙板——瓦楞紙板的厚度測定。
  紡織材料——各類紡織材料如編織織物、針織物、涂層織物等的厚度測定。
  非織造布——各類非織造布如尿不濕、衛(wèi)生巾等的厚度測定。
  其它材料——固體電絕緣材料、膠黏帶、土工合成材料、橡膠等的厚度測定。

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